JTAG

A JTAG (az angol rövidítése:  Joint test action group ; ejtsd: „jay-tag”) az IEEE 1149 szabványt kidolgozó munkacsoport neve, később ez a rövidítés szorosan összekapcsolódott az e csoport által kifejlesztett speciális hardverfelülettel . az IEEE 1149.1 szabvány. A Standard Test Access Port és a Boundary-Scan Architecture hivatalos neve . Az interfész bonyolult digitális áramkörök vagy PCB-szintű eszközök csatlakoztatására szolgál a szabványos teszt- és hibakereső berendezésekhez.

Az interfész mára iparági szabvány lett. Szinte minden bonyolultságú digitális áramkör fel van szerelve ezzel az interfésszel az alábbiakhoz:

• mikroáramkörök kimeneti vezérlése a gyártás során
• összeszerelt nyomtatott áramköri lapok tesztelése
• memória chip firmware
• hibakereső munka hardver és szoftver tervezésében

A szabványban megvalósított tesztelési módszer az úgynevezett Boundary Scan . A név tükrözi a folyamat kezdeti gondolatát: a mikroáramkörben funkcionális blokkokat osztanak ki, amelyek bemenetei leválaszthatók az áramkör többi részétől, adott jelkombináció alkalmazható, és az egyes blokkok kimeneteinek állapota lehet értékelni. Az egész folyamatot speciális parancsok hajtják végre a JTAG felületen, és nincs szükség fizikai beavatkozásra. Ennek a folyamatnak a kezelésére egy szabványos nyelvet fejlesztettek ki - BSDL ( Boundary Scan Description Language ).

A szabvány lehetővé teszi nagyszámú eszköz (mikroáramkör) csatlakoztatását egyetlen fizikai porton (csatlakozón) keresztül.

A tesztport ( TAP  - Test Access Port ) négy vagy öt dedikált chip érintkezőből áll: TSK, TMS, TDI, TDO és (opcionálisan) TRST .

E sorok funkcionális célja:

• TDI ( teszt adatbevitel  ) – Határvizsgálat soros adatbevitel. A parancsok és adatok a TCK jel felfutó élén található érintkezőről kerülnek a chipbe;
• TDO ( teszt adatkimenet  - "teszt adatkimenet") - soros adatkimenet. A parancsok és adatok a chipről a TCK jel lefutó élén lévő érintkezőről kerülnek kibocsátásra;
• TCK ( teszt óra  - "teszt órajel") - a beépített perifériás szkennelésvezérlő gép működését jelzi. A perifériás cellák maximális pásztázási frekvenciája a használt hardvertől függ, és jelenleg 25…40 MHz-re korlátozódik. ;
• TMS ( teszt mód kiválasztása  - "tesztmód kiválasztása") - biztosítja az áramkör átmenetét a teszt üzemmódba / abból és a különböző tesztmódok közötti váltást.
• Egyes esetekben a TRST jelet hozzáadják a felsorolt ​​jelekhez , hogy inicializálják a tesztportot, ami nem szükséges, mivel az inicializálás lehetséges egy bizonyos jelsorozat TMS bemenetre történő alkalmazásával.

A JTAG interfészt biztosító eszközök működése a mikroáramkörbe épített vezérlőegység jeleitől függ. Az automata állapotát a vizsgáló port TDI és TMS jelei határozzák meg. A TMS és TCK jelek bizonyos kombinációja biztosítja a parancs bemenetét a gép számára és annak végrehajtását.

Ha az alaplapnak több olyan eszköze van, amely támogatja a JTAG-ot, akkor ezek kombinálhatók egy közös láncba. A JTAG egyedülálló tulajdonsága, hogy nemcsak magát a mikrovezérlőt (vagy FPGA -t ), hanem a kimeneteihez csatlakoztatott flash memória chipet is programozhatja . Ezenkívül kétféleképpen lehet a flash memóriát programozni a JTAG használatával: rendszerbetöltőn keresztül, majd a processzor memóriáján keresztüli adatcserével, vagy a mikroáramkör érintkezőinek közvetlen vezérlésével.

Linkek

• Az IEEE 1149.1 szabványos fejlesztési csoport (JTAG) hivatalos oldala  (eng.)

•  JTAG GYIK
• Gyakorlati példa az AVR JTAG-al való munkára